XRF熒光光譜測試儀產(chǎn)品介紹
EDX 4500H XRF測試儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。江蘇天瑞儀器股份有限公司作為國內(nèi)XRF測試儀的生產(chǎn)廠家，在產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務方面。 XRF測試儀性能特點 新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
高效超薄窗X光管，指標達到*水平
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然 XRF測試儀
XRF熒光光譜測試儀標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵 XRF測試儀
XRF熒光光譜測試儀技術參數(shù)
產(chǎn)品型號：XRF 4500H
產(chǎn)品名稱：XRF測試儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg XRF測試儀
XRF熒光光譜測試儀應用領域
XRF測試儀廣泛應用于合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素） ，根據(jù)不同的客戶需求我們會定制不同的解決方案，在鋼鐵、五金、電子電器、礦石、電鍍企業(yè)等得到了廣泛應用。
XRF熒光光譜測試儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)X熒光測厚儀，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。
天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關技術服務，是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應用于環(huán)境保護與安全（空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測等）、礦產(chǎn)與資源（地質(zhì)、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。
