日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測(cè)量?jī)xNS-A系列
NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測(cè)量?jī)x是一種通過(guò)壓頭對(duì)細(xì)顆粒和顆粒加壓，可以直接測(cè)量破碎時(shí)非常微弱的力的設(shè)備。可測(cè)量的負(fù)載為 10nN。通過(guò)更換檢測(cè)傳感器，可以測(cè)量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度（強(qiáng)度）和顆粒硬度（強(qiáng)度）的測(cè)量中，我們實(shí)現(xiàn)了易用性和測(cè)量精度。
- 可以測(cè)量用戶(hù)規(guī)定的任何顆粒的破碎力（強(qiáng)度）。
-通過(guò)更換傳感器，可以測(cè)量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測(cè)量 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺(tái)（可選）可控制臺(tái)溫高達(dá)150°C。
-高性能隔振臺(tái)（選件）可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量，并*抑制測(cè)量噪音。
顆粒被壓碎時(shí)的運(yùn)動(dòng)被記錄為視頻（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格），并且有專(zhuān)門(mén)用于以與測(cè)量波形相關(guān)聯(lián)的形式回放的軟件。
日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測(cè)量?jī)xNS-A系列
適用于以下評(píng)價(jià)
?顆粒粉碎特性的測(cè)量
?調(diào)色劑溫度依賴(lài)性顆粒強(qiáng)度變化的測(cè)量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評(píng)估
?電池材料強(qiáng)度測(cè)量
?顆粒涂膜評(píng)估
? 一種墨粉顆粒強(qiáng)度的測(cè)量
?薄膜強(qiáng)度的測(cè)定
智能負(fù)載傳感器
通過(guò)根據(jù)樣品更換負(fù)載傳感器，可以測(cè)量各種細(xì)小顆粒和粒狀物料的破碎力。只需輕輕一按即可更換負(fù)載傳感器。通過(guò)使用來(lái)自傳感器外部的激光掃描負(fù)載檢測(cè)器來(lái)檢測(cè)負(fù)載。我們實(shí)現(xiàn)了廣泛的測(cè)量檢測(cè)測(cè)量范圍，可以處理各種樣品。
規(guī)格
| 專(zhuān)用測(cè)量軟件（適用于 Windows） |
| 體視顯微鏡（屏幕放大倍數(shù) 3000x） |
| 樣品臺(tái)（陶瓷鏡面制作） |
| 附帶專(zhuān)用工具 |
| 專(zhuān)用個(gè)人電腦 |
| 金屬鹵化物光源（80W） |
| 智能負(fù)載傳感器測(cè)量范圍 （6種） | |
| 10mN-10N | 10μN(yùn)～1mN |
| 1mN-100mN | 1 μN(yùn) 至 100 μN(yùn) |
| 0.1mN-10mN | 10nN-10μN(yùn) |
| 控溫階段可達(dá)150℃ | 高性能隔振臺(tái)0.5Hz |
| 待測(cè)樣品 | 3 微米至 1 毫米 | |
|---|---|---|
| 可測(cè)量負(fù)載范圍 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
| 測(cè)量壓縮速度 | 100 納米/秒至 50 微米/秒 | |
| 圖像捕捉 | 3CCD攝錄一體機(jī) | |
| 溫控臺(tái) | 常溫～150℃ | |
| 高性能隔振臺(tái) | 垂直 0.5Hz（可選） | |
| 尺寸/重量 | 身體 | 450W x 500H x 450D (20kg) |
| 控制器 | 320W x 250H x 350D (10kg) | |
| 電源 | AC100V 3A | |
