XRD型偏光顯微熔點(diǎn)儀是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料科學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化“傻瓜”設(shè)計(jì)，自動化程度高，操作簡單，技術(shù)*，性能優(yōu)秀，結(jié)構(gòu)新穎可靠。

輸入電源：               交流220V ±10﹪  45-60HZ 
熱臺加熱工作電源：       直流24V   1.5A
攻   耗：                75W
溫度范圍：               室溫—400℃
熱臺外體溫度：       當(dāng)熱體400℃；室溫25℃時(shí)≤70℃
熱體載物重量：       200克
工作方式：               連續(xù)
精 度：測量精度：        全范圍≤±0.3﹪
系統(tǒng)波動度：             ±1℃
升溫速度（MAX位）：   室溫—100℃≤40秒
可設(shè)置最慢升溫速度：     36秒/℃，達(dá)400℃時(shí)間：4小時(shí)
可設(shè)置升溫速度范圍：     MAX—36秒/℃
即刻恒溫響應(yīng)時(shí)間：       ≤0.01秒
工作臺外形尺寸：         Φ110mm ，厚度：12mm
工作臺工作面尺寸：       Φ30mm分別有透射光和反射光兩種
重 量：                   7.6Kg
外包裝尺寸：             360×215×365mm