R700型多探頭核輻射儀介紹：
在傳統(tǒng)手持表操作系統(tǒng)上全面升級(jí)為柯雷新開(kāi)發(fā)的圖形界面操作系統(tǒng)，大大簡(jiǎn)化了操作流程。R700主機(jī)采用3.2英寸彩色觸摸屏，配合不同的探頭，可以檢測(cè)α、β、γ、Χ和中子。
產(chǎn)品簡(jiǎn)述：
R700型多探頭核輻射儀，在傳統(tǒng)手持表操作系統(tǒng)上全面升級(jí)為柯雷新開(kāi)發(fā)的圖形界面操作系統(tǒng)，大大簡(jiǎn)化了操作流程。R700主機(jī)采用3.2英寸彩色觸摸屏，配合不同的探頭，可以檢測(cè)α、β、γ、Χ和中子。能量響應(yīng)范圍從2keV-7MeV，分辨率高，響應(yīng)速度快，且增加了本底移除算法，可移除95%的本底。探頭采用高級(jí)航空鋁材打造，渾然一體，防水防塵。R700提供大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)閱讀功能，并可上傳到電腦保存并分析。探頭電纜最長(zhǎng)可達(dá)500米（需定制），可選配無(wú)線探頭，大大方便了客戶的使用。
R700型多探頭核輻射儀，超大顯示屏可同時(shí)顯示多種測(cè)量數(shù)據(jù)：實(shí)時(shí)值、zui大值、最小值、報(bào)警閾值、%等，同時(shí)還可通過(guò)時(shí)域圖展示射線的劑量率變化情況，儀器自動(dòng)進(jìn)行劑量率累計(jì)。探頭內(nèi)置校驗(yàn)日期提醒功能，每次連接探頭的時(shí)候，主機(jī)自動(dòng)提醒用戶下一次校驗(yàn)的時(shí)間，以確保儀器的精度。產(chǎn)品有歐洲CE認(rèn)證和ISO9001質(zhì)量認(rèn)證。
應(yīng)用范圍：
R700型多探頭核輻射儀，可廣泛用在餐廳，家庭，公共場(chǎng)所，實(shí)驗(yàn)室，采石場(chǎng)，金屬處理廠，油田和供油管道裝備，環(huán)境保護(hù)，出入境檢驗(yàn)檢疫等部門(mén)，用于：
檢查食物污染
檢測(cè)液體污染
檢查周?chē)h(huán)境污染
檢查地下鉆管和設(shè)備的放射性
檢查石材等建筑材料的放射性
檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性
檢查局部的輻射泄露和核輻射污染
檢查有核輻射危險(xiǎn)的填埋地和垃圾場(chǎng)
檢查個(gè)人的貴重財(cái)產(chǎn)和珠寶的有害輻射
檢測(cè)從科研到工業(yè)的X射線到X射線強(qiáng)度
產(chǎn)品特性：
1、圖形界面操作系統(tǒng)
2、中英文顯示界面
3、3.2英寸彩色觸摸屏
4、可連接不同類(lèi)型探頭
5、主機(jī)自動(dòng)識(shí)別探頭，并自動(dòng)提示下一次校驗(yàn)日期
6、新增本底移除功能，可移除95%的本底
7、大屏幕可同時(shí)顯示時(shí)間，實(shí)時(shí)值，值、最小值，報(bào)警閾值
8、提供大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，可自動(dòng)或手動(dòng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
9、4500mAh大容量充電鋰電池
10、可通過(guò)上位機(jī)軟件連接PC實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、傳輸和分析等
技術(shù)參數(shù) ：
量程 |
見(jiàn)探頭技術(shù)參數(shù) |
傳感器種類(lèi) |
見(jiàn)探頭技術(shù)參數(shù) |
顯示單位 |
Sv/h，Gy/h，rem/h，Sv，cps，cpm，Bq/cm2 |
主機(jī)工作溫度 |
-20oC至+60oC |
主機(jī)儲(chǔ)存溫度 |
-30oC至+70oC |
顯示面板 |
3.2英寸彩色觸摸LCD顯示屏 |
顯示模式 |
標(biāo)準(zhǔn)模式；時(shí)域圖模式 |
操作系統(tǒng) |
圖形界面操作系統(tǒng)；中英文顯示界面 |
報(bào)警 |
聲光報(bào)警，在量程范圍內(nèi)可自定義報(bào)警閾值 |
報(bào)警閾值 |
可自定義 |
通信接口 |
USB |
伸縮桿（選配） |
標(biāo)配：153cm（可定制） |
尺寸 |
L238mm；W95mm；H42mm |
重量 |
主機(jī)：350g |
電池 |
可充電4500mAh鋰電池 |
電池連續(xù)使用時(shí)間 省電模式續(xù)航時(shí)間 |
>24小時(shí) >40小時(shí) |
探頭技術(shù)參數(shù)：
探頭型號(hào) | 描述 |
CS30A NaI閃爍體探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：γ和Χ射線 探測(cè)器：φ30×30mm NaI晶體 量程：0.01μSv/h-1000μSv/h 靈敏度：1μSv/h≥350cps(137Cs) 能量響應(yīng)：50keV-3MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
CS30B NaI閃爍體探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：γ能譜分析 探測(cè)器：φ50×50mm NaI晶體 量程：0.001μSv/h-1000μSv/h 靈敏度：1μSv/h≥800cps（137Cs） 分辨率：<8%@662kev(137Cs) 能量響應(yīng)：50keV-2MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
CS75 環(huán)境級(jí)塑料閃爍體探頭
| 測(cè)量射線種類(lèi)：環(huán)境級(jí)X、γ射線 探測(cè)器：φ75×75mm 塑料閃爍體 量 程：0.001μSv/h-200μSv/h 靈敏度：1μSv/h ≥1500cps(137Cs) 能量響應(yīng)：15keV-7MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
GM30A 餅型GM管探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：α、β、γ和Χ射線 探測(cè)器：餅型GM管，有效直徑45mm，云母窗密度1.5-2mg/cm2 量程：0. 01μSv/h-1000μSv/h 靈敏度：1μSv/h ≥7cps（137Cs） α能量響應(yīng)：從2.6MeV起 β能量響應(yīng)：從100keV起 X、γ能量響應(yīng)：20keV-3MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
GM30B 雙GM管探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：X和γ射線 探測(cè)器：雙GM管，高低量程自動(dòng)切換 量程：0.01μSv/h~10Sv/h 0.01μSv/h~1Sv/h可選 靈敏度：1μSv/h ≥3.5cps（137Cs） 能量響應(yīng)：50keV~3MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
ION-H 超高量程閃爍體探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：X、γ射線 探測(cè)器：耐輻照閃爍體傳感器，可長(zhǎng)時(shí)間在高量程下工作 量程：100μSv/h-1Sv/h 200μSv/h-10Sv/h 500μSv/h-50Sv/h 1000μSv/h-100Sv/h 2000μSv/h-200Sv/h 能量響應(yīng)：60keV-3MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
N10 H型中子伽馬探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：中子、γ射線 探測(cè)器：柯雷H型 4π全向探頭 探測(cè)晶體尺寸：10×10×10(mm3) 量程：中子：0.1μSv/h -10mSv/h γ：0.01μSv/h-20mSv/h 靈敏度：中子：1μSv/h ≥0.5cps(252Cf) 能量響應(yīng)：中子：0.0025eV-16MeV γ：50keV-3MeV γ抑制比：1000:1(137Cs) 相對(duì)基本誤差：≤±15%；中子(252Cf )、γ(137Cs) |
N20 H型中子伽馬探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：中子、γ射線 探測(cè)器：柯雷H型 4π全向探頭 探測(cè)晶體尺寸：20×20×20(mm3) 量程：中子：0.1μSv/h -10mSv/h γ：0.01μSv/h-10mSv/h 靈敏度：中子：1μSv/h ≥2.7cps(252Cf) 能量響應(yīng)：中子：0.0025eV-16MeV γ：50keV-3MeV γ抑制比：1000:1(137Cs) 相對(duì)基本誤差：≤±15%；中子(252Cf )、γ(137Cs) |
RW10 NaI閃爍體探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：水下X、γ射線，100米水下連續(xù)工作 探測(cè)器：φ35×35mm NaI晶體 量程：0.01μSv/h-1500μSv/h 靈敏度：1μSv/h ≥500cps(137Cs) 能量響應(yīng)：50keV-3MeV 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
CS170 大面積表面污染探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：α、β射線 探測(cè)器：ZnS+塑料閃爍體探測(cè)器 有效面積：170cm2 量程：0-1Mcps 能量范圍：α>3MeV β>150keV 探測(cè)效率：α≥24%(241Am)；β≥30%(204Ti) 探測(cè)本底：α通道≤ 0.1cps ；β通道≤ 12cps 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
CS30D 表面污染探頭 | 測(cè)量射線種類(lèi)：α、β射線 探測(cè)器：ZnS+塑料閃爍體探測(cè)器 有效面積：30cm2 計(jì)數(shù)范圍：1-105 探測(cè)效率：α≥30%(239Pu)；β≥25% 探測(cè)本底：每分鐘計(jì)數(shù)α≤3；β≤120 相對(duì)基本誤差：≤±15% |
