一、產品概述
ai-Phase 薄膜塞貝克系數(shù)電阻率測定裝置Mobile M3 type3 ，專為薄膜材料開發(fā)優(yōu)化，可同時完成塞貝克系數(shù)與電阻率兩項關鍵參數(shù)的快速測定。設備采用分體式設計，探頭與主機盒分離，體積小巧，可靈活放置在實驗臺、手套箱內使用，無需大型真空腔體，為熱電薄膜材料的研發(fā)與質量控制提供高效便捷的測試方案。
二、核心功能與技術參數(shù)
| 項目 | 規(guī)格說明 |
|---|---|
| 產品型號 | Mobile M3 type3 |
| 核心測試項目 | 塞貝克系數(shù)、電阻率 |
| 溫度范圍 | 室溫～180℃（支持定制擴展溫區(qū)） |
| 塞貝克系數(shù)測量范圍 | ±1000 μV/K，分辨率可達 0.1 μV/K |
| 電阻率測量范圍 | 10?? ~ 102 Ω?cm，適配低阻 / 高阻薄膜 |
| 樣品適配 | 晶圓、玻璃基板、柔性薄膜等多種基底，支持毫米級小樣品 |
| 結構形式 | 分體式便攜結構，探頭與主機盒分離 |
| 控制方式 | 主機盒 + PC 軟件控制，自動采集數(shù)據并計算功率因子 |
三、產品優(yōu)勢與特點
薄膜專用測量優(yōu)化
專為薄至數(shù)百納米的薄膜樣品設計，解決了傳統(tǒng)塊體設備測量薄膜時的誤差問題，可精準表征半導體、氧化物、有機熱電薄膜的熱電性能，適配熱電優(yōu)值（ZT）評估需求。
便攜易集成設計
采用緊湊型分體式結構，無需大型實驗設備，可直接在實驗室、生產線現(xiàn)場使用，也可集成到手套箱、真空設備中，滿足特殊環(huán)境下的測試需求。
高精度與高靈敏度
搭載高精度溫度差控制與電壓采集電路，可實現(xiàn)低塞貝克系數(shù)薄膜的精準測量，同時支持寬范圍電阻率測試，適配不同導電特性的薄膜樣品。
高效便捷的操作流程
軟件界面直觀易上手，一鍵完成樣品測試與數(shù)據導出，單樣品測試周期短，支持批量樣品快速檢測，大幅提升研發(fā)與質檢效率。
多功能集成測試
一臺設備同時完成塞貝克系數(shù)與電阻率兩項關鍵參數(shù)的測定，無需多臺設備分別測試，節(jié)省成本與實驗時間，為熱電材料的性能篩選與優(yōu)化提供完整數(shù)據支撐。
四、 ai-Phase 薄膜塞貝克系數(shù)電阻率測定裝置Mobile M3 type3 典型應用場景
熱電薄膜材料研發(fā)：Bi?Te?基、有機熱電、氧化物熱電薄膜的性能表征
半導體器件性能評估：半導體薄膜的導電類型與熱電特性分析
柔性電子材料測試：柔性熱電薄膜、可穿戴器件材料的性能檢測
新能源材料開發(fā)：熱電轉換器件、薄膜傳感器材料的性能篩選與優(yōu)化
高校與科研院所：材料科學、凝聚態(tài)物理相關的教學與研究實驗
